Título: Caracterización de películas delgadas de Si1-xGex depositadas mediante la combinación de plasmas de Si y Ge producidos por láser pulsado
Autor: Estrada López, Angel
Asesor: Gómez Rosas, Gilberto
Quiñonez Galvan, Jose Guadalupe
Campos González, Enrique
Perez Centeno, Armando
Fecha de titulación: 7-feb-2020
Editorial: Biblioteca Digital wdg.biblio
Universidad de Guadalajara
URI: https://hdl.handle.net/20.500.12104/80931
https://wdg.biblio.udg.mx
Programa educativo: MAESTRIA EN CIENCIA DE MATERIALES
Aparece en las colecciones:CUCEI

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