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https://hdl.handle.net/20.500.12104/80931| Título: | Caracterización de películas delgadas de Si1-xGex depositadas mediante la combinación de plasmas de Si y Ge producidos por láser pulsado |
| Autor: | Estrada López, Angel |
| Asesor: | Gómez Rosas, Gilberto Quiñonez Galvan, Jose Guadalupe Campos González, Enrique Perez Centeno, Armando |
| Fecha de titulación: | 7-feb-2020 |
| Editorial: | Biblioteca Digital wdg.biblio Universidad de Guadalajara |
| URI: | https://hdl.handle.net/20.500.12104/80931 https://wdg.biblio.udg.mx |
| Programa educativo: | MAESTRIA EN CIENCIA DE MATERIALES |
| Aparece en las colecciones: | CUCEI |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Tamaño | Formato | |
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