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| Título | Autor(es) | Programa educativo | Centro Universitario | ISSN | Programa educativo | Centro Universitario | Tipo |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Caracterización de películas delgadas de Si1-xGex depositadas mediante la combinación de plasmas de Si y Ge producidos por láser pulsado | Estrada López, Angel | - | - | - | MAESTRIA EN CIENCIA DE MATERIALES | CUCEI | Tesis de Maestria |