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Campo DCValorLengua/Idioma
dc.contributor.advisorNULL
dc.contributor.authorAmparo Tovar, Francisco
dc.contributor.authorCarrasco Carrillo, Héctor Joel; Chávez González, Daniel; Gómez Torres, Luz Maria; Molina Mejia, Saúl; Mora Cisneros, Gerardo Antonio; Ramos Díaz, Jorge Eduardo; Vélez Sánchez, Rubén
dc.date.accessioned2015-09-09T17:51:37Z-
dc.date.available2015-09-09T17:51:37Z-
dc.date.submitted2001
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12104/29470-
dc.identifier.urihttp://wdg.biblio.udg.mx
dc.formatapplication/PDF
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad de Guadalajara
dc.publisherBiblioteca Digital wdg.biblio
dc.rights.urihttp://wdg.biblio.udg.mx/politicasdepublicacion.php
dc.titleAnálisis electrónico de producto terminado con defecto en campo, trabajo monográfico de actualización.
dc.typeTesis de Licenciatura
dc.rights.holderUniversidad de Guadalajara
dc.rights.holderAmparo Tovar, Francisco
dc.rights.holderCarrasco Carrillo, Héctor Joel; Chávez González, Daniel; Gómez Torres, Luz Maria; Molina Mejia, Saúl; Mora Cisneros, Gerardo Antonio; Ramos Díaz, Jorge Eduardo; Vélez Sánchez, Rubén
dc.type.conacytbachelorThesis-
dc.degree.nameLicenciatura en Ingeniería en Comunicaciones y Electrónica-
dc.degree.departmentCUCEI-
dc.degree.grantorUniversidad de Guadalajara-
dc.degree.creatorLicenciado en Ingeniería en Comunicaciones y Electrónica-
Aparece en las colecciones:CUCEI

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